Японские ученые разработали упрощенный EUV-сканер, который удешевит производство чипов

Профессор Цумору Шинтаке (Tsumoru Shintake) из Окинавского института науки и технологий (Okinawa Institute of Science and Technology OIST) представил упрощенную конструкцию для EUV-литографии. Эта разработка способна серьезно уменьшить себестоимость производства полупроводников чипов и в будущем может серьёзно повлиять на всю индустрию.

EUV scanner OIST

Команда японских ученых представила систему из двух зеркал в оптической проекционной установке, что существенно отличается от традиционных конфигураций с шестью зеркалами. Для эффективной работы такой системы ученые решили две ключевые проблемы: предотвращение оптических аберраций и обеспечение эффективной передачи света. Система «двухлинейного поля» от OIST освещает фотомаску при минимальных искажениях, что повышает точность изображения на кремниевой пластине.

EUV scanner OIST

Важным преимуществом такого минималистского дизайна является повышение надежности и снижение сложности оборудования. Также такие инструменты для EUV-литографии позволят резко снизить энергопотребления. Благодаря оптимизированному оптическому пути система работает с источником света EUV мощностью всего 20 Вт, что позволит ограничиться общим энергопотреблением установки менее 100 кВт. В то же время традиционные системы для EUV-литографии часто требуют мощности более 1 МВт. Пониженное энергопотребление позволит упростить и систему охлаждения.

Эффективность новой конструкции проверена с помощью компьютерного оптического моделирования. Команда OIST уверена в том, что их разработку можно будет внедрить в массовое производство. Экономические последствия такого изобретения многообещающие. Полупроводниковая индустрия может получить новый толчок для развития. Однако пока не ясно, насколько японская разработка готова к практическому внедрению.

Источник:
Tom's Hardware

Обсудить в форуме (комментариев: 15)

Все новости за 07.08.2024 [ лента ]

Последние обзоры: